我们将开放一次公开测试，测试的目的是验证新的工作流程并获得反馈，从而进一步优化方法，参与者将可以获得免费的扫描。

项目说明：

1.对扫描精度、分辨率及像场的关系进行了平衡。

2.解决了翻拍中偶发的红移问题。

3.通过LCC计算使背光更均匀。

4.通过建立新的曝光模型，让各种扫描的曝光值更加接近于理想值。

5.对CMOS平面和扫描介质平面进行了精确调平，两个平面的平行精度有效控制在±0.05°度误差范围内。

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